Ley Federal de Protección a la Propiedad Industrial · Federal

Artículo 114

TÍTULO SEGUNDO De las Invenciones, Modelos de Utilidad, Diseños Industriales y Esquemas de Trazado de

Artículo 114.- Cuando a juicio del Instituto sea necesario para efectuar el examen de fondo, se podrá requerir a la persona solicitante para que exhiba información o documentación adicional o complementaria, incluida aquélla relativa a la búsqueda o examen practicado por oficinas extranjeras, en el plazo al que se refiere el artículo 111 de esta Ley.

Párrafo reformado DOF 03-04-2026

El Instituto podrá considerar o requerir el resultado del examen de fondo o su equivalente realizado por oficinas extranjeras de patentes, el cual será contemplado como un documento de apoyo técnico para el efecto de determinar si la invención, cuya patente se solicita, cumple con los requisitos establecidos en esta Ley.

La persona solicitante podrá presentar una copia de la patente respectiva otorgada por la oficina extranjera de propiedad industrial que corresponda, con su traducción al español, para los efectos del párrafo anterior.

Párrafo reformado DOF 03-04-2026

Última reforma de esta ley incorporada: 3 de abril de 2026. Comparamos este texto con su fuente el 1 de octubre de 2026. Fuente oficial: diputados.gob.mx.

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